Система контроля поверхностей ZEISS ABIS II

Система контроля поверхностей ZEISS ABIS II

Система ZEISS ABIS II создана для контроля поверхностей автокомпонентов, кузовов и деталей из листового металла. Система встраивается как в периодические плановые автономные проверки, так и в автоматизированный конвеерный контроль деталей в конце производственной кузнечно-прессовой линии. Система производит объективную оценку вмятин, трещин, задиров, сужений, волнистости и т.п при анализе как небольших кузовных частей, так и сложных автомобильных кузовов.

Снижение затрат за счет своевременного выявления дефектов

ZEISS ABIS II выявляет нарушения качества поверхности на превых этапах производства и предотвращает экономические потери из-за устранения дефектов на последних этапах производства деталей, а также снижает объем вторичной чистовой обработки изделий. Оптимизируя производственный процесс, система ZEISS ABIS II значительно снижает стоимость производства, обеспечивает экономию ресурсов и высокое качество выпускаемых изделий.

Сверхточный контроль

Благодаря настройкам системы под индивидуальные потребности производства обеспечивается сверхточный контроль поверхности вне зависимости от условий эксплуатации. ABIS II использует как готовые для интеграции решения, так и модификации для сложных задач и высокотехнологичного производства.

Быстрая и простая настройка

Система имеет удобный интерфейс и понятный функционал. Для настройки оператору требуется только выбрать необходимую деталь в специальном программном обеспечении. Все дополнительные настройки происходят при помощи простой в использовании программы ABIS-TeachIn. Далее процесс полностью автоматизирован. 

Предлагаем внедрение системы контроля поверхностей ZEISS ABIS II на предприятии

Для получения подробной информации по покупке и установке системы ZEISS ABIS II обратитесь к специалистам удобным вам способом: эл. почта info@3dcontrol.ru, онлайн-чат или форма заявки на сайте, телефон 8 800 201 55 75 (бесплатно по РФ).

Этапы внедрения системы:

1. Создание виртуального проекта системы для корректной настройки датчиков.
2. Исследования доступности поверхностей контролируемых деталей. Расчет количества датчиков, анализаторов и других конфигураций системы.
3. Проектирование системы с учетом требований безопасности и внедрение в производственный процесс с помощью ПО.

Оптический контроль поверхности.
Объективный и эффективный контроль качества на протяжении всего производственного процесса.

ZEISS ABIS II Offline

Автономная модификация системы для сбора и оценки данных на автоматизированном опытном стенде. Подходит для периодического производственного контроля.

ZEISS ABIS II Inline

Система для полного автоматизированного контроля. Интегрируется в производственную линию в цехе и настраивается как для полного контроля всей поверхности изделия, так и для выборочного контроля некоторых поверхностей в соответствии с техническим заданием заказчика.

Брошюра ZEISS ABIS II, рус